LP2260超声波测厚仪

LP2260超声波测厚仪超声波测厚仪采用脉冲反射超声波测量原理，适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播，并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。
超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件进行测量。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域，更适用于高空、高危和单手操作等场合应用。
本仪器符合以下标准：
ZB N77 001 超声波测厚仪通用技术条件
JJF 1126 超声波测厚仪校准规范
基本原理：
超声波探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
技术参数：
测量范围：1.2 mm~200 mm(钢)
显示分辨率：＜10.000 inch时为0.001 inch ≥10.000 inch时为0.01 inch ＜10.000 mm时为0.001 mm 10.000 mm~99.99 mm时为0.01 mm ≥100.00 mm时为0.1 mm
示值重复性：±0.03mm
声速调节范围：1000m/s~9999m/s
探头：5MHz 直径12mm
探头零点校准：自动
仪器校准：已知厚度时校准厚度，已知声速时校准厚度
计量单位：mm或inch
背光：自动/开/关
工作温度：0℃~40℃
存储温度：-20℃~60℃
探头表面温度：-10℃~60℃
电池：单节AA碱性电池（五号电池）
仪器尺寸：300g
仪器重量：40mm×120mm
防护等级：IP67（防水防尘等级）
基本配置：主机、耦合剂、标准试块
基本配置：主机（1台）、耦合剂（1瓶）、标准试块（1块）