LP2260超声波测厚仪

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LP2260超声波测厚仪超声波测厚仪采用脉冲反射超声波测量原理,适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。
超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件进行测量。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域,更适用于高空、高危和单手操作等场合应用。
本仪器符合以下标准:
ZB N77 001 超声波测厚仪通用技术条件
JJF 1126 超声波测厚仪校准规范
基本原理:
超声波探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
技术参数:
测量范围:1.2 mm~200 mm(钢)
显示分辨率:<10.000 inch时为0.001 inch ≥10.000 inch时为0.01 inch <10.000 mm时为0.001 mm 10.000 mm~99.99 mm时为0.01 mm ≥100.00 mm时为0.1 mm
示值重复性:±0.03mm
声速调节范围:1000m/s~9999m/s
探头:5MHz 直径12mm
探头零点校准:自动
仪器校准:已知厚度时校准厚度,已知声速时校准厚度
计量单位:mm或inch
背光:自动/开/关
工作温度:0℃~40℃
存储温度:-20℃~60℃
探头表面温度:-10℃~60℃
电池:单节AA碱性电池(五号电池)
仪器尺寸:300g
仪器重量:40mm×120mm
防护等级:IP67(防水防尘等级)
基本配置:主机、耦合剂、标准试块
基本配置:主机(1台)、耦合剂(1瓶)、标准试块(1块)

2022年8月9日
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